沖擊缺口投影儀對(duì)于沖擊試樣缺口要求嚴(yán)格,缺口的微小變化,都會(huì)引起試驗(yàn)結(jié)果出現(xiàn)誤差,為保證加工出的沖擊試樣缺口合格,缺口的加工質(zhì)量檢驗(yàn)是一個(gè)重要的控制手段。目前用光學(xué)投影放大檢查是切實(shí)可行,并能保證沖擊試樣 缺口質(zhì)量的方法。沖擊缺口投影儀是根據(jù)目前國(guó)內(nèi)廣大用戶的實(shí)際需求和GB/T229-2007《金屬夏比缺口沖擊試驗(yàn)方法》中對(duì)沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計(jì)、開發(fā)的,專業(yè)用于檢測(cè)沖擊試樣缺口是否合格的重要檢測(cè)設(shè)備,該沖擊試樣缺口投影儀是利用光學(xué)投影的原理將被測(cè)的沖擊試樣U和V型缺口與標(biāo)準(zhǔn)板圖對(duì)比以確定被檢測(cè)的沖擊試樣加工是否合格,該沖擊試樣缺口投影儀操作簡(jiǎn)便,檢查對(duì)比直觀、效率高,是沖擊試樣加工過(guò)程中心*的檢測(cè)設(shè)備。
一、沖擊缺口投影儀原理:
該儀器是利用光學(xué)影像技術(shù)將被測(cè)的沖擊試樣V或U型缺口根據(jù)GB、ASTM、ISO標(biāo)準(zhǔn)或自定義標(biāo)注要求測(cè)量,以確定被檢測(cè)的沖擊試樣缺口加工是否合格,自動(dòng)判定、操作簡(jiǎn)便,檢查對(duì)比直觀、效率高、并能保證檢查質(zhì)量的沖擊試樣缺口檢查方法,是相關(guān)理化試驗(yàn)室的*儀器。
二、沖擊缺口投影儀特點(diǎn):
測(cè)量速度款:
測(cè)量缺口只需2部就可以完成,步:將試樣放到試樣臺(tái)上(測(cè)量視場(chǎng)范圍內(nèi)),第二部:點(diǎn)擊測(cè)量按鈕,測(cè)量結(jié)果瞬間得出;每分鐘可測(cè)量80-180根試樣;
測(cè)量準(zhǔn)確:
自動(dòng)捕捉,自動(dòng)測(cè)量,不受人為因素影響,一次測(cè)量缺口角度、缺口深度、缺口底部半徑、缺口底部高度。
自動(dòng)判定
自動(dòng)進(jìn)行判定,判定依據(jù)可以執(zhí)行GB、ISO、ASTM、企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)、企業(yè)自定義標(biāo)準(zhǔn)來(lái)對(duì)測(cè)量結(jié)果自動(dòng)判定。
模塊化設(shè)計(jì)
模塊化設(shè)計(jì),可根據(jù)用戶自定義測(cè)量誤差范圍,自定義執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)等。
測(cè)量技術(shù)
采用像素解析技術(shù),自動(dòng)捕捉缺口邊緣,無(wú)需將試樣擺放水平??蓪?dǎo)入圖片進(jìn)行二次測(cè)量,用于仲裁或具有紛爭(zhēng)的結(jié)果查詢、再測(cè)量;
三、沖擊缺口投影儀操作方法:
1.接通電源,打開電源開關(guān)。
2.將被測(cè)試樣放在工作臺(tái)上,轉(zhuǎn)動(dòng)工作臺(tái)升降手輪(圖中的12),調(diào)焦至影像清晰,再調(diào)整圓工作臺(tái)和縱、橫向調(diào)節(jié)手輪,使已放大了50倍的試樣V型(或U型)缺口投影圖像與本儀器所提供的也已放大了50倍的沖擊試樣缺口標(biāo)準(zhǔn)尺寸圖對(duì)比,即可判斷出沖擊試樣V型缺口的幾何尺寸加工質(zhì)量。
3. 當(dāng)燈泡經(jīng)長(zhǎng)時(shí)間使用亮度降低或損壞后,需更換新燈泡:首先切斷電源,取下后蓋,旋松鹵鎢燈座(白瓷)上兩個(gè)螺釘,向上拔出燈泡,即可更換;更換后需按下面的方法重新調(diào)整照明系統(tǒng):
(1)取下后蓋板,打開電源開關(guān);
(2)在工作臺(tái)上放—張白紙;
(3)松開燈座正面滾花螺釘、調(diào)整光源后的大滾花手輪,即可調(diào)節(jié)燈絲中心高度,拉動(dòng)大滾花手輪可調(diào)節(jié)燈絲位于光軸水平中心位置;沖擊缺口投影儀調(diào)節(jié)時(shí)應(yīng)注意白紙上亮斑圓整并基本居中,然后移開白紙,觀察投影屏照明是否均勻,如此反復(fù)至均勻。
(4)旋緊滾花螺釘,固定燈座,照明系統(tǒng)調(diào)整結(jié)束。
照明系統(tǒng)的調(diào)整是把燈絲調(diào)整在光軸的中心,使投影屏上得到均勻亮度,新出廠的儀器照明系統(tǒng)已經(jīng)正確校正,—般不需調(diào)整,只有在儀器受到劇烈震動(dòng)或更換燈泡,使燈絲偏離光軸中心后才需調(diào)整。