沖擊試樣缺口測量分析儀應用

     沖擊試驗要求沖擊試樣缺口要求非常嚴格，缺口的微小變化，都會引起試驗結(jié)果出現(xiàn)誤差，為保證加工出的沖擊試樣缺口合格，缺口的加工質(zhì)量檢驗是一個重要的控制手段。目前zui準確的測量方法用光學測量是*準確測量的方法，并能保證沖擊試樣 缺口質(zhì)量的方法。

概述

    隨著國內(nèi)工業(yè)技術(shù)的發(fā)展，越來越多的行業(yè)已經(jīng)開始執(zhí)行夏比V型U型缺口沖擊試驗方法， 日前國內(nèi)很多行業(yè)如（航空航天、船舶、鍋爐壓力容器、冶金和機械）等行業(yè)已普遍使用夏比沖擊試驗。根據(jù)目前國內(nèi)廣大用戶的實際需求和國標GB/T229-2007《金屬材料夏比擺錘試驗方法》ASTM E23中沖擊試樣缺口的要求而開發(fā)、開發(fā)的一種于檢查夏比V型U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的光學儀器，是航空航天、船舶、鍋爐壓力容器、冶金和機械等部門理化實驗室的*設備。滿足所有種類沖擊試樣缺口的的檢測。 

   關于夏比V型缺口沖擊試驗，由于試樣V型缺口要求嚴格（GB/T229-2007試樣缺口深2mm±0.075、45°角±2°且試樣缺口要求R0.25±0.025mm）（ASTM E23試樣缺口深2mm±0.025、45°角±1°且試樣缺口要求R0.25±0.025mm），故在整個試驗過程中，試樣的V型缺口加工是否合格成了關鍵問題，如果試樣缺口的加工質(zhì)量不合格，那么其試驗的結(jié)果是不可信的，特別是R0.25mm缺口的微小變化（其公差帶只有0.025mm），都會引起試驗結(jié)果的偏差，尤其是在試驗的臨界值時會引起產(chǎn)品報廢或合格兩種截然相反的結(jié)果。為保證加工出的夏比V型缺口合格，其缺口的加工質(zhì)量檢驗是一個重要的質(zhì)量控制手段。用光學測量檢查是*切實可行并能保證檢查質(zhì)量的方法。TOP-IG是我公司根據(jù)GB/229-2007《金屬材料夏比缺口沖擊試驗方法》、ASTM E23中要求沖擊試樣缺口的要求與廣大用戶的實際需求而設計、開發(fā)的一種于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的光學測量儀器。

原理

   沖擊缺口測量分析儀通過光學采集系統(tǒng)將式樣缺口全貌顯示再電腦顯示器上，根據(jù)實際需要，調(diào)節(jié)的機器視覺光源，使圖像更加清晰，再通關過的SMTMeasSystem_IG測量系統(tǒng)，可以用于V型U型缺口測量，得出角度、深度以及頂部半徑。

產(chǎn)品特點

     該儀器是利用光學測量技術(shù)將被測的沖擊試樣V或U型缺口直接顯示再顯示器上，通過測量系統(tǒng)，測量，確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格，操作簡便，檢查直觀、效率高，是*切實可行、并將測量數(shù)據(jù)以圖片、word、excel格式保存起來，以便日后復查。沖擊缺口測量分析儀是相關理化試驗室的*儀器。

適用行業(yè)

    沖擊缺口測量分析儀適用于廣大冶金、航空航天、兵器、船舶、壓力容器、和工程機械制及科研等部門理化實驗室的*設備。

   該儀器還可用于機械零部件的外形輪廓、角度、半徑、長度、紡織物纖維、生物切片分析、工量刃具的檢驗、儀表元件和半導體元件的測量檢測。滿足標準GB/T 229-2007 ASTM E23-2002a等技術(shù)要求。

技術(shù)參數(shù)

     1、 放大倍數(shù)：10~300倍；

     2、 視場范圍：20mm；

     3、 工作臺尺寸：

       方工作臺：300×400mm

             X y可調(diào)載物臺：70×60mm

      4、 儀器放大倍率：10~300倍

      5、測量精度

           分辨率：0.001mm

      6、 光源（機器視覺裝用LED）：5v8W；

      7、 電源：220V/10W；

      8、 外形尺寸：400×300×600mm（長×寬×高）；

      9、重量：約30kg。